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红外热像仪是一种非接触的，将物体发出的不可见红外能量转变为可见热图像的测温工具，它可以安全、快速、扫描被测目标，准确的发现潜在产品质量问题或设备运行故障。CEM华盛昌推出的智能互联工具型红外热像仪DT DT-98DT-982L-8（温度测量范围-20℃到350℃）和DT-980DT-982H（温度测量范围-20℃到650℃）几个型号，体积小巧、结实耐用，用户可随身携带，随时发现隐藏的发热、冷气泄漏、管道堵塞以及其它问题，向客户或上级领导证实有故障需要维修并分享证据。
对有源天线阵列进行校准需要很长的生产测试时间。大型阵列可能包含成百上千个阵元，有必要通过表征这些阵元间的相位和增益关系，以确保精密的波束赋形。而且，进行阵元调整所需的测试时间会随着阵元数量的增加而大幅增长。使用多个相参测量通道能够有效地缩短测试时间。现在通常使用一台多端口网络分析仪在天线上执行相对增益和相位测量，一般是通过关矩阵对所有的天线端口或通道执行这种测量。这会产生很长的测试时间，尤其是对包含成百上千阵元的阵列。
控制命令先由工控机批量发送到CAN接口卡并本地保存，CAN卡再按照报文顺序及配置好的发送规则周期性发送在，这样可以保证时间精度在1ms以内。USBCAN-8E-U的该功能可以在的函数库中直接调用，如。（时间是1ms，KVASER数据为100us）调用底层定时发送丰富的二次发支持脱机发送是降低测试成本的重要手段。一般来说，老化测试总是大规模、批量型进行，这也就意味着一个老化实验室要配备足够量的工控机。
红色区域显示测量状态位置。蓝色轨迹显示状态之间的转换路径。相关的X-Y图是星座图。稍微深入细节，星座和状态转换图之间的区别是：星座图具体显示了恢复的符号时钟时间(红点)处的信号位置。状态转换图显示了这些点以及轨迹(信号从一个符号到下一个符号的遵循路径)。理想情况下，测量的状态位置应处于参考状态之下。它们的位置与理想位置不同的程度可通过错误矢量幅度(EVM)参数来测量，该参数也显示在设置对话框的左上方。
现把这两个问题的和解决过程与读者一同分享。系统概述及问题描述现简略的介绍该系统，其简略框图如下：该系统由两个模块组成，前端模块可插拔，在插入后会传输信号给FPGA，信号经过前端接收，A/D采样后进入FPGA信号，然后FPGA把过的信号通过PCIe接口传送给工控机进行后及显示。工控机也会通过PCIe接口控制FPGA的工作状态。前端的模块是可插拔的。个问题是该机器在测试时，发现在换模块时会偶发的出现工控机与FPGA的通讯异常的现象，该现象出现的频率很低，测试组的同事反馈在测试时经常会有换模块的操作，但该现象基本上几天才出现一次，虽然该现象概率低，但是问题影响甚为重大，必须攻破。
在设计LED灯具的过程中，当系统架构工程师是位元电子电力 ，或者若电源设计被承包给一家工程公司时，一些标准电源设计中常见的习惯就会出现在LED驱动器设计中。一些习惯是很有用的，因为LED驱动器在很多方面与传统的恒压源非常相似。两类电路都工作在较宽的输入电压范围和较大的输出功率下，另外这两类电路都面对连接到交流电源、直流稳压电源轨还是电池上等不同连接方式所带来的挑战。电力电子工程师习惯于总想确保输出电压或电流的高度，对LED驱动器而言并不是很好的习惯。
关于关电源EMI（Electro-MagneticInterference）的研究，有些从EMI产生的机理出发，有些从EMI产生的影响出发，都提出了许多实用有价值的方案。这里分析与比较了几种有效的方案，并为关电源EMI的措施提出新的参考建议。关电源电磁干扰的产生机理关电源产生的干扰，按噪声干扰源种类来分，可分为尖峰干扰和谐波干扰两种;若按耦合通路来分，可分为传导干扰和辐射干扰两种。现在按噪声干扰源来分别说明：二极管的反向恢复时间引起的干扰高频整流回路中的整流二极管正向导通时有较大的正向电流流过，在其受反偏电压而转向截止时，由于PN结中有较多的载流子积累，因而在载流子消失之前的一段时间里，电流会反向流动，致使载流子消失的反向恢复电流急剧减少而发生很大的电流变化。
